EDX

Discuri, probe de diverse forme etc. Pot realiza măsurători asupra elementelor cuprinse de la Na la U, iar modelul EDX 800 poate realiza de la C la U. Este ideal în implementarea normelor WEEE (waste electrical an electronic equipment) şi RoHS (Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical an electronic equipment).

detalii

XRD

Difractometria de raze X oferă o soluţie completă pentru caracterizarea cristalină a probelor cele mai diverse. Sisteme ideale atât pentru laboratoarele din cercetare cât şi pentru cele din controlul calităţii Sunt folosite pentru identificarea şi cuantificarea fazei cristaline, măsurători cantitative a soluţiilor solide, analiza structurilor cristaline, determinarea procentului de cristalinitate, analiza filmelor subţiri, orientarea fibrelor şi polimerilor etc Se pot realiza măsurători în transmisie sau în reflexie în moduri θ& 2θ (XRD 6000 şi HPD 6000) şi θ & θ (XRD 7000)

detalii

XRF

Pot realiza măsurători asupra elementelor cuprinse de la Be (4) la U (92). Este primul spectrometru XRF ce realizează mapare pe dimensiuni de 250 mm (patent Shimadzu) şi cu posibilitatea ataşării unei camere video pentru vizualizare şi suprapunere a imaginilor mapate. Astfel, pe lângă posibilitatea analizelor asupra probelor cu diametre de 10 şi 30 mm se pot efectua măsurători foarte precise şi punctual sau pe probe mici şi cu forme neregulate, cu un diametru minim de 500 mm.

detalii