Difractometria de raze X oferă o soluţie completă pentru caracterizarea cristalină a probelor cele mai diverse. Sisteme ideale atât pentru laboratoarele din cercetare cât şi pentru cele din controlul calităţii Sunt folosite pentru identificarea şi cuantificarea fazei cristaline, măsurători cantitative a soluţiilor solide, analiza structurilor cristaline, determinarea procentului de cristalinitate, analiza filmelor subţiri, orientarea fibrelor şi polimerilor etc Se pot realiza măsurători în transmisie sau în reflexie în moduri θ& 2θ (XRD 6000 şi HPD 6000) şi θ & θ (XRD 7000)
Solicita oferta
Solicita oferta