Analize Raze X

XRD

XRD

XRD

Difractometria de raze X oferă o soluţie completă pentru caracterizarea cristalină a probelor cele mai diverse. Sisteme ideale atât pentru laboratoarele din cercetare cât şi pentru cele din controlul calităţii Sunt folosite pentru identificarea şi cuantificarea fazei cristaline, măsurători cantitative a soluţiilor solide, analiza structurilor cristaline, determinarea procentului de cristalinitate, analiza filmelor subţiri, orientarea fibrelor şi polimerilor etc Se pot realiza măsurători în transmisie sau în reflexie în moduri θ& 2θ (XRD 6000 şi HPD 6000) şi θ & θ (XRD 7000)

Solicita oferta
Solicita oferta
Mesajul a fost trimis cu succes.
Eroare! Reincercati.
  
Detalii Generale

Tehnica analitică XRD, EDX şi XRF începe să aibă tot mai mare căutare datorită domeniului foarte mare de aplicabilitate pentru determinări calitative dar şi cantitative. Difractometria de raze X oferă o soluţie completă pentru caracterizarea cristalină a probelor cele mai diverse.
  • Sisteme ideale atât pentru laboratoarele din cercetare cât şi pentru cele din controlul calităţii
  • Sunt folosite pentru  identificarea şi cuantificarea fazei cristaline, măsurători cantitative a soluţiilor solide, analiza structurilor cristaline, determinarea procentului de cristalinitate, analiza filmelor subţiri, orientarea fibrelor şi polimerilor etc
  • Se pot realiza măsurători în transmisie sau în reflexie în moduri θ& 2θ (XRD 6000 şi HPD 6000) şi θ & θ (XRD 7000)
  • Difractometrele XRD 6000 şi XRD 7000 dispun de un sistem Bragg-Bretano optimizat pentru analiza materialelor policristaline. Difractometrul HPD 6000 este noul difractometru de raze X ce foloseşte un sistem de fascicule paralele de mare putere realizat cu optică policapilară din XOS. Această optică policapilară şi cu monocromatorul generează un fascicul de raze X de mare putere
  • Generatorul de raze X are o putere maximă de 3 kW cu o gamă foarte largă de tuburi de raze X
  • Dispun de un monocromator suplimentar pentru măsurători de mare sensibilitate,
  • Difractometrele se controlează cu ajutorul computerului prin softul specific.
Sunt disponibile două modele XRD:Ambele modele pot fi configurate după dorinţa utilizatorului cu cele mai diverse accesorii:
  • Tehnică policapilară
  • Analize de filme subţiri
  • Analize la temperature extreme (-150 … 900oC)
  • Analiză asupra stresului din reţeaua cristalină
  • Autosampler probe