Analize Raze X

XRF

XRF

XRF

Pot realiza măsurători asupra elementelor cuprinse de la Be (4) la U (92). Este primul spectrometru XRF ce realizează mapare pe dimensiuni de 250 mm (patent Shimadzu) şi cu posibilitatea ataşării unei camere video pentru vizualizare şi suprapunere a imaginilor mapate. Astfel, pe lângă posibilitatea analizelor asupra probelor cu diametre de 10 şi 30 mm se pot efectua măsurători foarte precise şi punctual sau pe probe mici şi cu forme neregulate, cu un diametru minim de 500 mm.

Solicita oferta
Solicita oferta
Mesajul a fost trimis cu succes.
Eroare! Reincercati.
 
 Detalii Generale: 
  • Spectrometru de înaltă sensibilitate, ideal în industria electronică şi a materialelor magnetice, industria chimică, industria petrolului şi a petrochimiei, industria materialelor de construcţie, distribuitorilor de medicamente, industria agro-alimentară, industria materialelor feroase şi neferoase, analizele de mediu, laboratoarele de cercetare etc.
  • Sunt spectrometre ce pot realiza măsurători non-distructive, cantitative şi calitative, asupra probelor de cea mai diversă natură. Se pot analiza probe solide, pulberi, lichide, discuri, probe de diverse forme etc.
  • Pot realiza măsurători asupra elementelor cuprinse de la Be (4) la U (92)
  • Este primul spectrometru XRF ce realizează mapare pe dimensiuni de 250 mm (patent Shimadzu) şi cu posibilitatea ataşării unei camere video pentru vizualizare şi suprapunere a imaginilor mapate. Astfel, pe lângă posibilitatea analizelor asupra probelor cu diametre de 10 şi 30 mm se pot efectua măsurători foarte precise şi punctual sau pe probe mici şi cu forme neregulate, cu un diametru minim de 500 mm.
  • Poate realiza analize calitative şi cantitative folosind ordinile superioare ale fluorescenţei de raze X (patent Shimadzu). În general analiza este efectuată doar pe primul ordin al radiaţiei X. Totuşi, sunt cazuri în care la fluorescenţă apar şi ordinile superioare ale radiaţiei X şi atunci spectrul conţine un pic deformat care face dificilă sau chiar imposibilă analiza calitativă şi cantitativă. În acest sens, Shimadzu a introdus un sistem care realizează simultan şi analiza ordinelor superioare ale radiaţiei X pentru a putea lua decizii cu privire la interferenţe şi implicit la analiza propriu zisă.
  • Poate realiza măsurători de grosime de filme şi de componenţi anorganici pentru filmele foarte fine din polimeri, cu ajutorul metodei de corecţie de background FP (patent Shimadzu)
  • Sistemul este compact, complet integrat, conţinând toate componentele necesare: sursa de radiaţie X, sistemul de răcire, sistemul de vacuum, compartimentul de probe, detectorul, computerul etc.
  • Tubul de raze X, cu Rh, asigură 4 KW (maxim 140 mA) printr-o fereastră foarte subţire şi asigură o înaltă sensibilitate şi un timp de viaţă ridicat, aproximativ de 5 ani. Datorită acestui lucru, sensibilitatea pentru elementele uşoare, inclusiv pentru Be, este mărită de două ori. Opţional se poate ataşa şi un tub dual, Rh/Cr, pentru analize de mare sensibilitate pentru Ti, Cl, Rh şi Ag.
Sistemul de introducere a probei în procesul de măsurare este complet automat şi este asigurat de un mecanism special cu auto-ajustare (patent Shimadzu). Standard este dotat cu stativ pentru 8 probe şi poate fi upgradat la un sistem cu maxim 40 de probe.
  • Asigură cea mai mare viteză de scanare, de 300°/min, pentru măsurători calitative şi cantitative rapide
  • Sistemul este livrat standard cu tub de Rh de 4 KW şi cu un sistem de 5 filtre automate de raze X (Zr, Ni, Ti, Al şi out), 5 aperturi automate (500 mm, 3, 10, 20 şi 30 mm), trei fante automate (standard, înaltă rezoluţie şi înaltă sensibilitate) şi un goniometru q/2q independent
  • Sistemul de vidare pentru elementele uşoare este controlat electronic pentru a asigura o reproductibilitate mărită. Opţional sistemul se poate purja cu N2 sau cu He.
  • Detecţia este realizată cu ajutorul unui detector cu scintilaţie (SC) şi cu ajutorul unui numărător proporţional (FPC). XRF 1800 dispune de un sistem de control automat al sensibilităţii (ASC) care controlează dacă în cazul unei radiaţii incidente prea puternice apar picuri saturate, ceea ce duce fie la splitarea picurilor în două fie la micşorarea acestuia. În asemenea cazuri sistemul introduce o atenuare sau reduce puterea pe tubul de raze X pentru ca semnalul să fie liniar şi să poată fi folosit în analiza cantitativă/calitativă. Liniaritate detectorului FPC este foarte mare de aproximativ 3.000.000 cps
  • Întreg sistemul este termostatat la 35°C.
  • Este ideal în implementarea normelor WEEE (waste electrical an electronic equipment) şi RoHS (Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical an electronic equipment)
  • Controlul spectrometrelor se realizează prin softul specific
  • Softul poate realiza analiza calitativa si cantitativa. Se pot realiza curbe de calibrare, corecţii de matrice, metode FP, filme subţiri FP, fond FP. De asemenea dispune de funcţii de corecţii automate pentru intensitate, energie etc. De asemenea softul verifică continuu starea sistemului.
XRF 1800

Sistemul complet este compus din 6 părţi:
  1. generatorul de raze X
  2. unitate de răcire a tubului de raze X
  3. spectrometru
  4. detector
  5. soft
  6. computer